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电子设备综合环境加速贮存试验装置

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发明名称一种电子设备综合环境加速贮存试验装置(57)摘要一种电子设备综合环境加速贮存寿命试验装置,它包括温度湿度综合试验箱、控制微机和温湿测试仪三部分;该温度湿度综合试验箱,其箱壳外箱采用不锈钢板,内箱采用耐高低温不锈钢板,内箱与外箱形成的保温层采用高密度玻璃纤维棉或石棉板。该控制微机和温湿测试仪都选用常规型号;该装置具有稳定平衡的加热加湿能力,可进行高精确、高稳定的恒温恒湿控制;确保设备和人身的安全;设备温控控湿部分,采用可编程温湿度温控仪,可模拟高温高湿/高温低湿/低温高湿/高温/低温等不同的环境条件。基于可靠性增长模型的加速贮存寿命评估方法避免了加速模型的选择,主要针对步降应力加速寿命试验,对于组成及失效机理复杂的电子设备有较好的适应。

一种电子设备综合环境加速贮存试验装置技术领域

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本发明提供一种电子设备综合环境加速贮存试验装置及其寿命评估的方法,属于电子设备及其寿命评估技术领域。背景技术[0002] 可靠性增长试验通过有计划的激发失效、分析失效原因和改进设计,并证明改进措施的有效性以提高产品的可靠性。通过可靠性增长试验,将耐环境应力低的薄弱环节消除以使整个产品耐环境应力能力得到提高。[0003] 对步进应力加速寿命试验而言,在试验中对产品虽不采取改进措施,但却采取提高应力。显然,产品的可靠性不会提高反而降低;因此,若把采取提高应力级对应于对产品采取的改进措施,且在不考虑累积损伤的情况下,则“步进应力”加速试验就可以视为可靠性增长试验中的“负增长试验”。[0004] 对步降应力加速寿命试验而言,其试验方法把加速试验设计成与可靠性增长试验完全类同的试验。具体试验设计是先进行最高应力级试验,然后逐步降低,这样一来,对产品的纠正措施在此处成了降低应力级。显然,试验在起始时很容易出现故障,随着应力级的降低,其寿命或可靠性增长至“步进应力”初始时不出现故障,试验结束。该试验可以认为是定时截尾的可靠性增长试验。这样现已成熟的可靠性增长试验中的理论和分析方法就可以在步降应力加速寿命试验中应用,特别是在可靠性增长试验中广为应用的AMSAA(该模型是美国陆军装备系统分析中心Army Materiel Systems Analysis Activity提出,取首字母即为AMSAA)模型就可以用来分析目前国内外正在开展的此类加速试验。[0005] 对于产品上电子设备而言,其贮存时间长且故障发生率低,失效机理多种多样,研究技术难度大。将目前国内外均已成熟的针对元器件级的加速试验方法以及基于加速模型的评估方法套用在电子设备上并不合适,而且随着科学技术的发展,产品上的电子设备也越来越多,电子设备的贮存寿命对于产品的贮存寿命影响甚大。产品上电子设备贮存寿命的研究对整个产品的贮存有着重大的意义。为了能够准确评估电子设备的贮存寿命,必须将其在贮存期内所经历的环境条件均考虑在内,因此综合环境加速贮存试验方法及其加速贮存寿命试验装置研究亟待解决。


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